ZEISS Axio Imager 2 金相顯微鏡

簡要描述：當您進行高級材料研究時，請在光學顯微鏡工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 金相顯微鏡獲得材料的準確且可重復的結果，讓您受益匪淺。選擇適合您的應用的系統(tǒng)。通過顆粒分析、共焦或相關顯微鏡等專用解決方案擴展您的儀器。

產品型號：
廠商性質：代理商
更新時間：2025-07-11
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詳細介紹

可重復的結果

享受無振動的工作條件

欣賞 Axio Imager 2 穩(wěn)定的成像條件，尤其是在使用高放大倍率或執(zhí)行時間依賴性研究時。由于 Axio Imager 2 的機動化，可在始終在恒定條件下工作的同時實現(xiàn)快速且可重復的結果。用于材料研究的ZEISS Axio Imager 2 金相顯微鏡

用于材料研究的蔡司 Axio Imager 2

用于自動材料分析的開放式顯微鏡系統(tǒng)

當您進行高級材料研究時，請在光學顯微鏡工作流程中引入易用性。使用 ZEISS Axio Imager 2 獲得材料的準確且可重復的結果，讓您受益匪淺。選擇適合您的應用的系統(tǒng)。通過顆粒分析、共焦或相關顯微鏡等專用解決方案擴展您的儀器。

可重復的結果
模塊化設計

模塊化設計

獲得增強的靈活性

無論是在學術研究還是工業(yè)研究中，材料顯微鏡都面臨著各種挑戰(zhàn)。借助 Axio Imager 2，您將能夠應對并贏得這些挑戰(zhàn)。連接特定于應用的組件并執(zhí)行例如顆粒分析。研究非金屬夾雜物 (NMI)、液晶或基于半導體的 MEM。通過共焦或相關顯微鏡專用解決方案擴展您的儀器。

用于材料研究的ZEISS Axio Imager 2 金相顯微鏡

高光學性能

實現(xiàn)出色的對比度和分辨率

使用不同的對比技術檢查一系列材料，例如金屬、復合材料或液晶。
使用反射光并在明場、暗場、微分干涉襯度 (DIC)、圓微分干涉襯度 (C-DIC)、偏振或熒光下觀察樣品。
使用透射光并在明場、暗場、微分干涉襯度 (DIC)、偏振或圓偏振下檢查樣品。對比度管理器確保可重復的照明設置。

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ZEISS Axio Imager 2 金相顯微鏡

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